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蔡司光學測量家族系列:以非接觸式精準,守護工業質量高度

蔡司光學測量家族系列:以非接觸式精準,守護工業質量高度

在工業制造的精密世界里,每一個微小的尺寸偏差都可能影響產品的性能與安全。當工業制造進入微米級精度競爭時代,傳統測量方式在面對微小部件、復雜形狀或易損材質時,需要更適配的技術方案來突破局限。蔡司作為光學測量領域的先鋒,憑借百年光學技術積淀,其推出的影像三坐標測量機系列,提供了從快速影像測量到復合式檢測的全方位解決方案,在電子、汽車、醫療等行業大顯身手。


O-DETECT快速精準的影像測量

對于追求高效與便捷的生產場景,ZEISS O-DETECT 是理想之選。它以直觀操作、高質量成像和靈活照明為核心,兼具快速與精準的特性,操作簡便,即使是新手也能快速上手。


核心優勢

高圖像質量和出色的光學系統

以高分辨率提供大觀察視野,捕捉更多細節。

使用500萬像素的相機捕獲高質量的圖像,將圖像轉換為精準的測量結果。


圖片1.jpg  

zeiss-odetect-toplight.jpg


靈活的配置選項

可升級為復合式測量設備,選配接觸式傳感器,易于升級。

 

zeiss_xdt-sensor.jpg


不同照明選項,更具靈活性

可更換附件平臺。

多功能且易于更換的頂燈,對準確的測量結果起著關鍵作用。

 

圖片1.gif


O-INSPECT復合測量,兼顧精度與靈活

ZEISS O-INSPECT 復合式測量機則實現了光學與接觸式測量的融合,讓您能以適合的方式通過光學或接觸式測量到每一個特征。它在 1D、2D 和 3D 方面皆符合 ISO-10360 驗收標準,保證了測量結果的可靠性。


核心優勢

大觀察視野,提供良好的圖像質量

ZEISS Discovery.V12相機傳感器,捕捉微小細節。


CKF01451.jpg

 

敏感表面的光學測量

ZEISS Dotscan以非接觸的方式捕捉工件形貌。


O-INSPECT_DotScan_Closeup.jpg

 

快速準確的三維觸覺測量

ZEISS VAST XXT一次掃描即可獲取大量測量點,實現高精度掃描。

 

zeiss_xdt-sensor.jpg


O-INSPECT duo一機雙能,效率與空間雙提升

ZEISS O-INSPECT duo作為蔡司首款多技術合一系統,將測量技術和顯微技術融為一體,兼具顯微鏡與光學及接觸式測量功能,是一款真正的多傳感器設備。

核心優勢

顯微鏡和測量機合二為一

多傳感器測量機,準確的光學和接觸式測量。

 

圖片3.jpg


500萬像素高分辨率彩色相機,準確檢測缺陷。

 

圖片2.jpg


雙軟件支持

配備兩款專為各自任務設計的軟件:用于測量的ZEISS CALYPSO,和用于顯微觀察的ZEISS ZEN core。


CALYPSO Visual + Text.jpg

Connected KV Microscopy Version_V3_Precise_Cmyk.jpg

  

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唐楠
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